AOI 檢測運作原理
1 分鐘
- #1. 什麼是 AOI 檢測?
- #2. AOI 檢測運作原理
- #3. 2D AOI 與 3D AOI 的差異
#1. 什麼是 AOI 檢測?
自動光學檢測(Automated Optical Inspection,AOI)是一種運用光學原理與影像處理技術,對 PCBA(印刷電路板組裝)上的元件焊點/焊錫接點進行檢查的技術。
它能快速辨識焊點中的細微缺陷,有效彌補人工目視檢查的限制。
(圖片來源:網路)
#2. AOI 檢測運作原理
AOI 檢測設備主要利用光線反射原理,對 PCBA 電路板上的元件焊點進行辨識與檢查。
檢測過程取得的影像資訊會被轉換為資料,並與 AOI 資料庫中的合格參數進行比對,以判定受測焊點是否存在缺陷。
(圖片來源:網路)
依據 AOI 檢測流程,可分為以下四個階段:
影像擷取階段
負責掃描受測物並蒐集影像。
AOI 光源通常由高角度與低角度的 RGB 環形光(紅、綠、藍)組合而成,透過不同角度與顏色照射不同層級的焊點,並將焊點反射光蒐集至電腦。
(圖片來源:網路)
相機垂直架設於 PCBA 電路板上方以拍攝元件焊點影像;依「入射角等於反射角」的原理,焊點於不同角度與不同層級的反射光會以不同顏色被相機擷取。
(AOI 影像擷取原理)
(2) 資料處理階段
負責對蒐集到的影像資料進行分類與轉換。
AOI 設備的電腦會以演算法處理已擷取的影像特徵,例如去雜訊、校正與增強,以提升影像品質,供後續分析使用。
(資料處理後影像)
影像分析階段
負責從處理後影像中擷取特徵,並透過樣板比對、色彩擷取等方法與 AOI 資料庫中的合格參數比對,以辨識影像中的缺陷。
色彩擷取比對:一般而言,焊點影像中的紅色區域多代表焊點平坦面的反射;綠色區域代表元件腳位的焊錫爬升角較小;藍色區域代表焊錫爬升角較大。透過擷取影像中各顏色比例並與合格樣板的比例比對:若落在門檻值範圍內則判定為合格板;否則依預先定義的不良類型產生缺陷報告。
(AOI 色彩擷取比對:在門檻值內=合格板)
樣板比對:AOI 資料庫中的合格參數通常以匯入的元件封裝資料建立為樣板。AOI 檢測時,將受測 PCBA 電路板影像與 AOI 資料庫中的合格參數進行比對,以判定焊點是否存在缺陷。
(AOI 樣板比對:焊錫短路/錫橋)
報告階段
負責輸出檢測結果。
影像分析後,凡與 AOI 資料庫合格參數不符者會被標示為 NG 板,缺陷位置會自動標記,供人員後續檢查與返修。
符合合格參數者會被標示為 OK 板,並自動送往收板機進入下一製程。
#3. 2D AOI 與 3D AOI 的差異
2D AOI 檢測
主要使用 RGB 平面打光,從單一角度取得元件的 2D 影像。透過處理焊點反射光,在影像分析階段分析影像中的色彩比例以偵測缺陷。
(2D AOI 成像)
優點:2D AOI 應用範圍廣、成本相對較低,可快速偵測 PCBA 上的缺件、偏移、露銅、焊錫短路(錫橋)等焊接缺陷。
(圖片來源:網路)
缺點:2D AOI 無法從多角度檢查 IC 腳翹起/浮腳等缺陷,且邊緣量測容易受照明變化影響,導致能力受限。
3D AOI 檢測
在 2D AOI 的基礎上加入結構光成像。透過光柵等方式重建 2D 影像缺乏的高度資訊,使其能從多角度檢測元件腳位的焊接狀態,改善 2D AOI 對 IC 腳翹起/浮腳等情況的限制。
(3D AOI 成像)
缺點:3D AOI 技術複雜度較高,需專業維護,且成本相較 2D AOI 更高。由於 AOI 以物體表面成像為主,對於具有大面積接地焊盤且缺陷位於元件底部的焊點,AOI 難以檢出,通常需改用 X 光檢查。
持續學習
使用萬用電表辨識電晶體腳位:完整逐步指南
正確辨識電晶體腳位,是每位工程師、電子愛好者與電機電子相關學生在將雙極性接面電晶體(BJT)放入電路前,最先需要檢查的事項之一。若基極、集極或射極判斷錯誤,可能會在第一次上電時損壞元件,或讓原型板在沒有明顯跡象的情況下完全無法運作。 本指南說明在沒有資料表可用時,如何使用萬用電表辨識電晶體腳位。這個方法之所以有效,是因為 BJT 內部由兩個共用同一個基極的 PN 接面構成,結構與二極體中的接面相同。也正因如此,萬用電表的二極體測試模式才是適合用來判斷腳位的工具。 讀完本文後,您將能夠: 找出未標示電晶體上的基極腳位 判斷電晶體是 NPN 還是 PNP 辨識集極與射極 了解 SOT-23 與其他 SMD 封裝所帶來的額外風險 圖:NPN 與 PNP 電晶體符號,顯示基極、集極與射極端子。 測試前先了解電晶體腳位 什麼是基極、集極與射極? BJT 有三個端子: 基極(B):控制端子。此處的小電流會使電晶體導通,並允許更大的電流在集極與射極之間流動。 集極(C):依電晶體類型不同,負責讓較大的電流流入或流出電晶體。 射極(E):電流在回到電源供應端的過程中,會從此端子流出(NPN)或流入(PNP)。 在......
IPC-A-600、IPC-A-610與J-STD-001權責邊界與實務應用
重點摘要 IPC-A-600:適用於未組裝PCB裸板,重點檢查外觀、基材內部完整性及金相切片等可接受性條件。 IPC-A-610:適用於完成組裝的PCBA,作為焊點形貌、元器件貼裝與典型組裝缺陷的外觀驗收依據。 J-STD-001:管控焊接材料、熱工藝參數、人員資格與生產環境,補足IPC-A-610未涵蓋的製程要求。 權責邊界:裸板缺陷通常追溯板廠,組裝外觀缺陷追溯EMS製程,焊接材料與製程違規則依J-STD-001判定。 實務應用:採購文件與生產圖紙應明確標註標準版本及Class等級,並事先約定驗收依據與文件優先順序。 電子製造供應鏈體系中,PCBA測試失效引發的權責歸屬爭議極為常見:裸板製造商主張出廠板材符合驗收規範,EMS組裝廠強調焊接製程參數全程受控,品牌端品管則依據顯微觀測到的細微瑕疵提出拒收訴求。終止此類無休止技術爭議的核心路徑,是回歸業界公認的檢驗與製程標準。在IPC(國際電子工業聯接協會)的龐大標準體系內,三項核心文件構成了硬體製造的品質法理基礎。釐清三者的適用層級與權責邊界,是硬體研發與品質工程師的必備專業能力。 一、IPC-A-600:裸板可接受性的檢驗基準 在任何元器件貼裝工......
細間距封裝下的測試難題:JTAG邊界掃描的實務細節
重點摘要 測試方式轉變:JTAG 邊界掃描捨棄外部物理探針,利用晶片內建的邊界掃描單元完成高密度 PCBA 的板級互連檢測。 IEEE 1149.1:透過 TCK、TMS、TDI、TDO 四線 TAP 存取端口,把測試向量送入晶片內部的邊界掃描單元,定位開路、短路及引腳電平卡死等缺陷。 BSDL 文件:BSDL 記錄晶片的 TAP 引腳、指令寄存器與邊界寄存器資訊,是 ATPG 自動產生板級互連測試程式的重要基礎。 DFT 設計:掃描鏈拓撲、TCK 訊號完整性、TAP 上下拉及測試模式進入條件,都應在 PCB 設計階段預先規劃。 擴大覆蓋:透過叢集測試,JTAG 還能利用支援邊界掃描的主晶片,對 DDR、SPI Flash、I2C 感測器等外圍器件進行檢測。 舊產線慣用的飛針測試、ICT 針床測試,本質都依賴物理探針接觸測試點來完成量測。面對如今的高密度設計,探針根本找不到下針的位置,幾千個 BGA 錫球的焊接是否虛焊、短路,傳統方法幾乎查不了。為了應對這個難題,業界逐步推廣開了 JTAG 邊界掃描技術——簡單說就是捨棄外部物理探針,改用晶片內建的數位電路來完成板級互連檢測。 這項技術改變的不只是......
PCB離子污染深度解析:ROSE與SIR兩種清潔度測試的實務對比
重點摘要 離子污染風險:PCB 表面的離子殘留在「濕氣」與「直流偏壓」同時存在時,可能觸發電化學遷移(ECM),進一步形成枝晶、漏電甚至短路。 ROSE 測試:透過萃取液電阻率變化換算板面離子總量,約 10~15 分鐘即可完成,適合日常產線快速製程管控。 SIR 測試:在高溫、高濕及直流偏壓條件下長時間監控表面絕緣電阻,可直接評估助焊劑殘留是否會引發實際漏電失效。 測試差異:ROSE 著重整板平均離子濃度;SIR 則能捕捉局部電化學遷移,並驗證迴焊熱曲線與材料搭配的可靠度。 實務策略:先以 SIR 測試為基準確認材料搭配與熱曲線設定的可靠度,再以 ROSE 測試作為日常產線快速監控工具。 隨著 SMT 表面黏著技術不斷往高密度、細間距方向推進,電路板上微觀的化學殘留,逐漸成為產品隱性失效的主要誘因。當中的 PCB 離子污染,更是引發漏電流、線路短路的關鍵因素。 為了確保產品在高濕、長期運行下的可靠度,業界開發出多種離子清潔度檢測方法。很長一段時間裡,ROSE 測試(溶劑萃取電阻率測試)都是產線快速把關的主流手段;但隨著免洗助焊劑的廣泛應用,表面絕緣電阻測試(SIR)慢慢取代前者,成為評估助焊劑殘留......
攔截隱形缺陷:PCB測試策略與品質控管技術全解析
在電子製造價值鏈中,“良品率”是一項至關重要的指標,直接影響利潤空間。隨著元件封裝尺寸不斷縮小至 01005 甚至更小,傳統的人工目視檢測(MVI)已愈發難以滿足現代電路板對品質控制的嚴苛要求。一塊電路板即便肉眼看似完美無瑕,其內部仍可能潛藏著微觀短路點,或是在 BGA 焊球下隱藏著肉眼不可見的空洞。在實際應用中,一套高效率的電路板偵測系統,本質上就是要在成本投入與故障風險之間尋求動態的平衡。 一、 第一道防線:基於 AOI 技術的視覺檢測創新 自動光學檢測(AOI)如今已成為表面貼裝技術(SMT)生產線上的標準配備。該系統透過利用多角度光源及高速工業相機,將待檢電路板與標準參考樣本(通常被稱為“金板”)進行比對,從而識別出兩者之間的差異或缺陷。 1. 從 2D AOI 到 3D AOI 的演進 早期的 2D AOI 系統僅能偵測平面缺陷,例如元件漏裝、極性反向或文字印刷錯誤等。相較之下,3D AOI 系統則採用了雷射掃描或結構光等技術,能夠精確檢測出焊點高度不均、板體翹曲以及焊點形態異常等缺陷。這些檢測數據對於預測焊點的長期可靠性具有至關重要的意義。 2. 演算法的進步:減少誤報與漏檢 在電路板......
3D錫膏檢測(SPI)技術應用與製程管控規範
一、從2D到3D SPI:檢測技術迭代 PCB錫膏印刷檢測(SPI)為SMT製程前置品質管控環節,直接影響後續焊點良率與產品可靠性。早期產業採用2D影像檢測,以頂置光源灰階對比成像為基礎僅能識別錫膏覆蓋面積、平面偏移量,無法量測垂直高度、立體體積、表面形貌等三維參數。 2D SPI不具備隱性缺陷識別能力,錫膏薄化、邊緣微塌陷、局部拉尖、微量缺錫等問題易流入回流工序,引發虛焊、冷焊、元件偏移等不良,增加返工成本與物料損耗。 隨電子產品小型化、高密度化,3D SPI已成高精密SMT產線標準配置。3D SPI採用相位測量輪廓術(PMP),設備輸出條紋結構光投射至錫膏表面,成像單元捕獲光柵變形資訊,經演算法重建三維輪廓,完成三項核心參數量化: 錫膏高度:量測堆疊垂直高度,驗證刮刀刮除、鋼網脫模不均異常,確保符合規格。 錫膏體積:計算微米級堆疊體積,為焊點潤濕性、機械強度的直接評估指標。 表面形貌:識別邊緣塌陷、尖角凸起、局部缺料、表面孔洞等異常。 二、SPI前置管控:錫膏印刷缺陷識別與根因 SMT製程數據顯示,超70%焊點不良源自錫膏印刷。SPI於回流前實施全板檢測,識別分類缺陷、攔截不良PCB,避免後續......