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PCB 리버스 엔지니어링(역설계): 회로도·넷리스트 복원 가이드

최초 게시일 Sep 03, 2026, 업데이트 되였습니다. Sep 03, 2026

1 분

표목(TOC)
  • PCB 리버스 엔지니어링이란?
  • PCB 역설계 3단계 작업 흐름
  • 복잡한 PCB 역설계의 주요 과제
  • PCB 역설계 서비스 선택과 제조 인계
  • PCB 리버스 엔지니어링 FAQ
  • 결론

핵심 요약

  • BOM 및 부품 매핑 → 레이어·넷리스트 추출 → 회로도 복원과 DFM 검증의 3단계로 진행합니다.
  • 광학 이미지보다 멀티미터로 확인한 전기적 연결과 검증된 넷리스트를 우선합니다.
  • 외층은 스캔할 수 있지만 블라인드·베리드 비아가 있는 HDI는 micro-CT 또는 디레이어링이 필요할 수 있습니다.
  • 트레이스 폭을 그대로 복사하지 말고 새 적층과 유전체 두께에 맞춰 임피던스를 다시 계산합니다.
  • 마킹이 없는 IC는 전원 핀, 주변 부품, 핀 연결과 동작 신호를 함께 분석합니다.

동작 중인 장비의 PCB가 있지만 공급업체가 사라지고 설계 파일도 남아 있지 않은 경우가 있습니다. PCB 리버스 엔지니어링 또는 PCB 역설계는 완성된 기판을 분석해 회로도, BOM, 넷리스트와 제조 데이터를 복원하는 과정입니다. 이 글에서는 3단계 작업 흐름, 적합한 이미지 장비, HDI 비아 분석, 마킹 없는 IC 식별과 재제작 전 DFM 검증 방법을 설명합니다.

PCB 리버스 엔지니어링이란?

PCB 역설계는 부품과 동박으로 이루어진 실제 보드에서 원래 제조에 사용한 설계 정보를 재구성하는 작업입니다. 결과물은 목적에 따라 다음 세 가지로 나뉩니다.

  • BOM: 부품명, 값, 패키지와 단종 시 대체 후보를 정리합니다.
  • 넷리스트: 어떤 핀이 어떤 핀과 연결되는지 기록한 전기적 연결 정보입니다.
  • 물리적 레이아웃: 동박 형상, 드릴, 레이어 순서를 복원해 Gerber와 드릴 파일로 만듭니다.

문서화가 목적이라면 넷리스트와 회로도에서 작업을 끝낼 수 있습니다. 재제작이 필요한 경우에만 실제 레이아웃까지 복원합니다. 먼저 신뢰할 수 있는 넷리스트를 확보하면 이후 작업은 연결 정보를 실제 형상으로 옮기는 과정이 됩니다.

PCB 역설계가 필요한 상황

  1. 공급업체가 사라진 장비 수리: 생산 설비나 제어 보드의 원본 파일이 없을 때 사용합니다.
  2. 단종 부품 교체: 기존 부품의 기능과 연결을 파악한 뒤 대체 회로를 설계합니다.
  3. 자사 문서 복구: EDA 도구 이전이나 외주 인력 변경으로 사라진 CAD 데이터를 복원합니다.
  4. 고장 분석: 반복적으로 손상되는 부품의 실제 전기 연결과 전류 경로를 확인합니다.
  5. 레거시 설계 이전: 단종된 적층과 자재를 현재 제조 공정에 맞게 다시 설계합니다.

법적 주의: 역설계의 허용 범위는 국가·지역, 계약, 라이선스, 특허, 저작권, 영업비밀과 제품 용도에 따라 달라집니다. 소유한 장비의 수리나 상호운용성 목적이라도 자동으로 모든 행위가 허용된다고 단정할 수 없습니다. 프로젝트 시작 전에 적용 법률과 계약을 검토해야 하며 이 글은 법률 자문이 아닙니다.

PCB 역설계 3단계 작업 흐름

PCB 리버스 엔지니어링 3단계 작업 흐름

단계주요 작업도구결과물
1. 분해와 부품 매핑촬영, 목록 작성, 디솔더링, 측정스캐너, 현미경, LCR 미터, 멀티미터검증된 BOM과 참조 번호 맵
2. 레이어 이미지와 패턴 추출각 동박층을 촬영·노출하고 정렬2D X-ray, micro-CT, 연마, 화학 박리정렬된 레이어 이미지와 넷리스트
3. 회로도 복원과 DFMEDA에서 회로를 재구성하고 제조 한계 확인KiCad, Altium, EasyEDA, DFM 도구회로도, 레이아웃, Gerber와 드릴 파일

1단계: 분해와 부품 매핑

부품을 건드리기 전에 보드 양면을 평평한 조명과 어두운 배경에서 촬영합니다. 원문의 1200 DPI 스캔은 픽셀당 약 21 μm(0.8 mil)의 이론적 샘플링 간격을 제공하지만 실제 판독 능력은 광학계, 초점과 부품 마킹에 따라 달라집니다.

PCB 부품 참조 번호와 BOM 매핑을 위한 고해상도 스캔

  1. 실크스크린이 남아 있다면 각 부품에 참조 번호를 지정합니다.
  2. 패키지 마킹을 기록하고 SMD 트랜지스터·다이오드 코드 자료와 대조합니다.
  3. 마킹으로 값을 확인할 수 없는 부품은 분리해 측정합니다. 세라믹 커패시터는 값이 인쇄되지 않은 경우가 많습니다.
  4. 패키지 외형을 측정하고 적용 가능한 IPC-7351 랜드 패턴과 비교합니다.

수동 부품은 가능한 한 회로에서 분리해 측정합니다. 예를 들어 0.1 μF 디커플링 커패시터를 회로 내에서 측정하면 같은 전원 레일의 다른 커패시터가 병렬로 연결되어 훨씬 큰 값이 나타날 수 있습니다.

2단계: 레이어 이미지와 패턴 추출

외층은 솔더 마스크를 제거하거나 노출된 동박을 스캔할 수 있지만 내부층은 보이지 않습니다.

다층 PCB 내부 패턴을 분석하는 X-ray와 디레이어링

  • 2D X-ray: 빠르게 비아 위치와 고밀도 동박을 확인할 수 있지만 모든 레이어가 하나의 평면에 겹쳐 보입니다.
  • X-ray micro-CT: 회전 촬영 데이터를 3D로 재구성해 깊이별 슬라이스를 확인합니다. 원문 연구 사례는 약 14 μm 복셀과 15 mm 시야를 제시하지만 장비·시편 조건별 성능을 확인해야 합니다.
  • 디레이어링: 연마 또는 CNC 밀링, 화학적 박리로 한 층씩 제거하고 각 단계에서 촬영합니다. 높은 해상도를 얻을 수 있지만 시편을 파괴합니다.

한 레이어를 제거하면 다시 확인할 수 없으므로 각 단계의 기준점, 배율과 이미지 파일을 철저히 기록합니다. 동일한 보드가 여러 장 있다면 첫 시편의 작업 순서를 검증한 뒤 다른 시편을 사용하십시오.

3단계: 회로도 복원과 DFM 검증

정렬한 레이어 이미지를 EDA 도구의 배경으로 불러오고 실제 풋프린트를 배치한 뒤 패턴을 재구성합니다. 이미지와 멀티미터 측정이 충돌하면 전기적으로 재확인한 넷리스트를 우선합니다.

회로도는 실제 부품 위치 순서가 아니라 전원, MCU와 디커플링, 인터페이스 등 기능 블록으로 구성해야 읽고 검증하기 쉽습니다.

  • 제조사의 실제 한계로 DRC와 ERC를 실행합니다.
  • 최소 선폭·간격, 드릴과 애뉼러 링을 확인합니다.
  • EDA에서 내보낸 넷리스트와 측정 넷리스트를 최종 비교합니다.
  • 검사점, 극성, 핀 1 표시와 실크스크린을 다시 확인합니다.

복잡한 PCB 역설계의 주요 과제

과제일반 방법의 한계적합한 접근주의점
4~8층 내부 패턴광학 스캔은 외층만 확인연속 디레이어링 또는 micro-CT동박 밀도가 높으면 CT 해상도 저하
블라인드·베리드 비아2D X-ray는 레이어를 겹쳐 표시3D CT 또는 IPC-TM-650 기반 마이크로섹션마이크로섹션은 해당 영역 파괴
무마킹·하우스 넘버 IC검색 가능한 부품 번호 없음핀 연결, 동작 신호, 주변 회로 분석커스텀 ASIC은 완전 복원이 어려울 수 있음
제어 임피던스기존 선폭 복사 시 임피던스 불일치새 적층에서 폭·간격 재계산원래 목표 임피던스를 추론해야 함

HDI와 블라인드·베리드 비아

스루홀 비아는 보드 전체를 관통하지만 블라인드 비아는 외층과 일부 내부층을, 베리드 비아는 내부층끼리만 연결합니다. 2D X-ray만으로는 시작·종료 레이어를 구분하기 어렵습니다. micro-CT는 깊이별 슬라이스로 비아 배럴의 시작과 끝을 보여 줍니다. 약 0.1 mm(4 mil) 수준의 레이저 마이크로비아와 밀집된 플레인은 분석 난도를 높이므로 작은 영역을 나눠 촬영할 수 있습니다.

HDI PCB의 블라인드 비아와 베리드 비아 분석

CT 사용이 어렵다면 대표 비아 영역을 마이크로섹션해 연마 단면에서 레이어 전이를 확인합니다. 먼저 비아 구조를 매핑하면 레이어 이미지의 모호한 연결을 해석하기 쉬워집니다.

마킹이 없는 IC 식별

  1. 핀 수와 패키지 확인: 16핀 SOIC와 48핀 QFP는 주변 회로와 역할이 크게 다릅니다.
  2. 전원과 그라운드 확인: 전원 레일에 연결된 핀을 찾으면 후보군을 줄일 수 있습니다.
  3. 주변 부품 분석: 크리스털과 SPI Flash 주변의 IC는 MCU일 가능성이 있고, 릴레이와 플라이백 다이오드를 구동하는 IC는 드라이버 배열일 수 있습니다.
  4. 동작 중 신호 측정: 클록 주파수, 전압 레벨과 버스 프로토콜로 기능을 추정합니다.

커스텀 ASIC이나 마스크 ROM MCU는 동일 부품을 찾지 못할 수 있습니다. 이 경우 ‘핀 호환 부품’을 추측해 넣지 말고 필요한 기능과 인터페이스를 정의해 현대 부품으로 재설계하고 검증해야 합니다. 원문에 나온 74HC595 또는 TL074는 단지 기능 예시이며 미확인 IC의 일반 대체품이 아닙니다.

신호 무결성과 제어 임피던스

특성 임피던스는 트레이스 폭뿐 아니라 동박 두께, 기준면까지의 유전체 높이, 유전율과 차동 간격으로 결정됩니다.

PCB 역설계 후 적층에 맞춘 제어 임피던스 재계산

원문은 JLC7628 4층 예시에서 Dk 약 4.6, 유전체 약 0.18 mm, 외층 50 Ω 트레이스 폭 약 0.27 mm를 제시합니다. 이 값은 해당 적층 조건에만 해당합니다. 유전체가 더 얇아지면 같은 선폭의 임피던스가 달라집니다.

예를 들어 6층 모터 드라이브를 1.6 mm 4층 구조로 바꾸면서 CAN 차동 쌍을 원래 0.20 mm 폭으로 그대로 복사하면 목표 120 Ω 대신 약 85 Ω이 될 수 있습니다. 실제 수치는 적층과 간격에 따라 달라지며, 핵심은 새 제조 적층에서 폭과 간격을 다시 계산해야 한다는 점입니다. 넷리스트 추출 단계에서 차동 쌍을 표시하고 모든 후보를 재검토하십시오.

PCB 역설계 서비스 선택과 제조 인계

2층 보드는 사내에서 분석할 수 있지만 다층·HDI는 이미지 장비와 파괴 분석 비용 때문에 전문 서비스가 효율적일 수 있습니다. 계약서에는 BOM, 넷리스트, 읽기 쉬운 회로도, 풋프린트, 원본 EDA 파일, Gerber와 드릴 파일 중 어떤 결과물을 제공하는지 명시해야 합니다.

복원 Gerber의 DFM 확인

  • 레이어 수와 적층: 복원한 구조가 실제 제조사가 제공하는지 확인합니다.
  • 최소 선폭·간격: 원문은 일반 1 oz에서 약 5 mil, 일부 고정밀 주문에서 3.5 mil을 예로 들지만 현재 옵션과 조합별 능력을 확인해야 합니다.
  • 비아 구조: 블라인드·베리드 비아는 순차 적층이 필요할 수 있습니다.
  • 실크스크린: 스캔을 확대·축소해 복원한 문자가 제조 최소 크기보다 작아지지 않았는지 확인합니다.
  • 제어 임피던스: 새 적층에서 필드 솔버 또는 제조사 계산기로 다시 산정합니다.

원문의 레이어 수, 임피던스 공차와 HDI 제공 범위는 주문 시점에 변할 수 있으므로 현재 JLCPCB 제조 능력과 견적 옵션을 기준으로 확인해야 합니다.

복원한 PCB 데이터를 제조 전에 검증하세요

Gerber와 드릴 파일을 업로드하고 적층, 비아 구조 및 DFM 결과를 확인하십시오.

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PCB 리버스 엔지니어링 FAQ

PCB 역설계는 합법인가요?

목적, 관할권, 계약과 지식재산권에 따라 달라집니다. 수리나 상호운용성 목적이라도 자동으로 허용된다고 단정할 수 없으므로 전문가에게 확인하십시오.

PCB를 파괴하지 않고 역설계할 수 있나요?

2D X-ray 또는 micro-CT를 사용하면 비파괴 분석이 가능합니다. 다만 동박 밀도와 보드 두께가 증가하면 세부 식별이 어려워질 수 있고, 디레이어링은 더 선명하지만 시편을 파괴합니다.

PCB 역설계에는 얼마나 걸리나요?

단순 2층 보드는 며칠 안에 가능할 수 있지만, 무마킹 IC가 있는 고밀도 6~8층 보드는 부품 식별과 넷리스트 검증 때문에 수주가 걸릴 수 있습니다. 고정된 기간은 아닙니다.

역설계 서비스에서 어떤 파일을 받아야 하나요?

목적에 따라 BOM, 넷리스트, 회로도, 풋프린트, 편집 가능한 EDA 파일, Gerber와 드릴 파일을 계약에 명시합니다.

IC 마킹을 읽을 수 없으면 어떻게 하나요?

핀 수, 패키지, 전원과 그라운드, 주변 부품과 동작 신호를 이용해 기능을 추정합니다. 커스텀 소자는 현대 부품으로 기능을 재설계해야 할 수 있습니다.

결론

PCB 역설계는 부품, 전기 연결, 동박의 순서로 진행해야 합니다. 이미지나 자동 변환 결과만 믿지 말고 측정한 넷리스트를 기준으로 검증하십시오. 복원이 끝난 뒤에도 새 적층에서 임피던스, 열, 드릴과 제조 공차를 다시 설계해야 합니다. 원래 보드를 그대로 복사하는 것이 아니라 현재 제조 공정에서 다시 동작하도록 전기적·물리적 조건을 재구성하는 작업입니다.

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