7 種 BGA 封裝類型詳解：設計、組裝與應用
3 分鐘
重點摘要：BGA 封裝類型
● BGA 封裝可在 HDI PCB 上實現高 I/O 密度並提升電氣效能。
● 不同 BGA 類型分別針對成本、熱效能、訊號完整性或可靠性進行最佳化。
● 選錯 BGA 封裝可能導致回焊缺陷、熱失效或 SI/PI 問題。
● 封裝選擇必須與 PCB 疊構、回焊曲線及應用環境相匹配。
球柵陣列（BGA）封裝對 高密度互連（HDI）設計 產生了深遠影響。與傳統引線框架封裝（如 QFP、SOIC）不同，BGA 不受周邊間距與引線共面性限制，而是將整個封裝底部用於 I/O 佈線。BGA 封裝的熱、電、機械特性使其能夠妥善管理現代 FPGA、處理器與記憶體晶片的高接腳數。
因此，使用 JLCPCB PCB 組裝服務 的設計人員必須徹底了解 BGA 封裝的熱機械特性與組裝物理，才能最佳化訊號完整性（SI）與電源完整性（PI）。
安裝於高密度互連 PCB 上的球柵陣列（BGA）封裝巨觀視圖。
了解 BGA 封裝
在深入探討不同 BGA 封裝類型之前，必須先清楚了解其基本架構。核心 BGA 由五大元件組成：基板（有機或陶瓷）、晶片黏著區、互連結構（打線或覆晶凸塊）、封裝材料與焊球陣列。其中基板同時扮演機械載體與電氣介面，將訊號從晶片傳導至周邊連接。
以下關鍵參數定義 BGA 的效能特性：
● 球距：兩焊球中心距離，早期設計為 1.5 mm，極細間距可達 0.4 mm。
● 基板材料：BT（雙馬來醯亞胺三嗪）樹脂因電氣特性佳而首選，FR-4 因成本低而常用，陶瓷基板則具最佳導熱性且與矽 CTE 匹配。
焊料成分：傳統共晶 SnPb（63/37 錫鉛）已大量被無鉛替代，如 SAC305（96.5% 錫、3% 銀、0.5% 銅）與 SAC405。這些合金熔點與機械性質各異，是 JLCPCB PCB 組裝回焊製程的主要考量。
| 封裝類型 | 球距範圍 | 基板材料 | 典型應用 | 熱效能 |
|---|---|---|---|---|
| PBGA | 1.27 mm – 1.0 mm | BT 樹脂、FR-4 | 消費電子、MCU | 中等（θJA：25–35 ℃/W） |
| CBGA | 1.27 mm | 陶瓷（Al₂O₃） | 航太、軍規 | 優異（θJA：15–20 ℃/W） |
| TBGA | 0.8 mm – 0.5 mm | 聚醯亞胺膠帶 | 行動裝置 | 良好（超薄封裝） |
| FCBGA | 1.27 mm – 0.8 mm | 有機層壓板 | 高效能處理器 | 極佳（θJA：10–18 ℃/W） |
| 𝜇BGA | 0.65 mm – 0.4 mm | 薄有機板 | IoT、穿戴式、感測器 | 中等（晶片尺寸受限） |
| EBGA | 1.27 mm – 1.0 mm | 有機板 + 散熱片 | 功率放大器、高階 FPGA | 優異（θJA：<12–18 ℃/W） |
| MBGA | 1.27 mm – 1.0 mm | 金屬（鋁） | 工業馬達、放大器 | 優異（θJA：<15 ℃/W） |
BGA 封裝類型綜合比較
#類型 1 塑膠 BGA（PBGA）：基板物理
● 基板成分：PBGA 使用 BT（雙馬來醯亞胺三嗪）樹脂 基板。選用 BT 而非標準 FR-4，是因為其玻璃轉移溫度更高（Tg ≈ 180 ℃）且吸濕率更低。
● 熱機械限制：PBGA 主要失效模式為焊點剪切應變，由矽晶片（2.6 ppm/℃）與有機層壓基板（≈13–17 ppm/℃）之間的熱膨脹係數（CTE）不匹配引起。
● 濕敏特性：PBGA 易吸濕，依 J-STD-020 通常為 MSL 3 與 MSL 4。若超出車間壽命，須以 125 ℃ 烘烤，防止回焊時水氣快速膨脹造成「爆米花」分層。
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PBGA 結構展示打線與 BT 樹脂基板層。
#類型 2 陶瓷 BGA（CBGA）：熱與 CTE 管理
在航太、電信等嚴苛環境中，陶瓷球柵陣列（CBGA）是可靠性首選。
● 基板：採用多層共燒陶瓷 （Al₂O₃） 基板。
● CTE 匹配：陶瓷基板 （CTE ≈ 6.7 ppm/℃） 與矽晶片幾乎完美匹配，大幅降低晶片黏著介面應力，但應力轉移至 PCB 焊點。
● 「非塌陷」焊球：CBGA 常用高溫焊球 （90Pb/10Sn） 以共晶焊料固定。標準 SMT 回焊（SAC305 曲線）時，主球體不熔，僅介面共晶層回焊，維持一致站立高度。
#類型 3 覆晶 BGA（FCBGA）：訊號完整性最佳化
高效能運算（CPU、GPU、ASIC）中，打線電感過高。覆晶 BGA（FCBGA）以 C4（可控塌陷晶片連接）凸塊取代打線。
● 電感降低：典型打線電感 2–3 nH，C4 凸塊降至 <0.2 nH，對 >10 Gbps SerDes 通道至關重要。
● 電源分配網路（PDN）：垂直路徑阻抗更低（ZPDN），顯著降低高 di/dt 切換時的電壓跌落（Vdroop）。
● 底部填充物理：晶片以凸塊剛性固定於基板，需以毛細底部填充環氧樹脂填補晶片與基板間隙，重新分布熱機械應力，防止凸塊龜裂（疲勞失效）。
| 參數 | FCBGA | 打線 PBGA | 效能提升 |
|---|---|---|---|
| 寄生電感 | 0.2–0.5 nH | 2–5 nH | 降低 5–10 倍 |
| 最高頻率 | >5 GHz | 2–3 GHz | 提升 >60% |
| 熱阻（θJC） | 0.1–0.3 °C/W | 1–3 °C/W | 改善 5–10 倍 |
| 電源分配（PDN 阻抗） | <5 mΩ | 15–30 mΩ | 改善 3–6 倍 |
打線 BGA 與覆晶 BGA 技術的訊號路徑電感比較。
#類型 4 膠帶 BGA（TBGA）：柔性方案
膠帶球柵陣列技術採用柔性聚醯亞胺膠帶基板，厚度 25–75 μm，附銅電路層。
● 熱效能：TBGA 通常採 「cavity-down」 結構，晶片背面直接貼合散熱片。
● 應用：適合需要中等接腳數與優異散熱的薄型行動裝置。
#類型 5 微型 BGA（𝜇BGA）/晶片級封裝（CSP）
微型 BGA（μBGA）為常見晶片級封裝（CSP），封裝面積不超過矽晶片 1.2 倍，廣泛用於智慧型手機、穿戴式裝置與 DDR 記憶體。
● 極細間距：球距縮至 0.5–0.3 mm，置件容差極小。
● 焊膏物理：間距 <0.4 mm 時，4 號焊膏（20–38 μm 粒徑）易堵塞開口，需改用 5 號或更細焊膏。
● 機械強化：焊點小，跌落易裂，建議行動裝置採用底部填充（毛細或四角點膠）強化 CSP 與 PCB 機械黏著。
#類型 6 強化 BGA（EBGA）：熱最佳化
強化球柵陣列（EBGA）為新一代封裝，支援高功耗應用（5–20 W 以上）。
● 結構：EBGA 將金屬散熱片或「銅塊」（多為銅或鋁）整合於封裝內，晶片直接貼附，熱阻極低。
● 熱阻：新設計顯著降低接面至環境熱阻（θJA）。
● PCB 設計注意：使用 EBGA 時，工程師須在元件下方設計密集熱導孔群，將熱量從銅塊傳至內層接地平面。
具整合散熱片的強化 BGA 結構，用於熱管理。
#類型 7 金屬 BGA（MBGA）：強健熱管理
金屬球柵陣列（MBGA）採用金屬基板（通常為陽極處理鋁），而非一般有機或陶瓷基板。
● 結構：矽晶片以導熱膠黏著於金屬基板，再於金屬上層壓薄膜電路層，並以打線連接。
● 熱物理：鋁核心即為大型整合散熱片，使 MBGA 熱效能可比擬陶瓷 BGA（CBGA），但成本更低。
● 應用：MBGA 是工業馬達控制器、高功率運算放大器與電信線路卡的首選，這些應用以散熱為主要設計限制。
金屬 BGA（MBGA）封裝結構，以鋁基板散熱。
如何為高速與高可靠性 PCB 設計選擇合適的 BGA 封裝
選擇合適 BGA 封裝需系統性評估電氣、熱、機械與成本參數。
● 電氣效能：應用需多 GHz 訊號完整性？務必採用 FCBGA，其寄生電感極低；一般效能 PBGA 即可。
● 熱管理：以最差功耗計算接面溫度：
若被動冷卻無法維持 Tj < 100 ℃，升級至 CBGA 或 EBGA。
● 機械可靠性：軍規/航太熱循環需 CBGA 完美 CTE 匹配；高振動可考柱柵陣列（CGA）。
● 成本 vs. 複雜度：PBGA 最經濟；𝜇BGA 與 PoP 需高階 HDI（盲埋孔），板成本大增。
| 應用領域 | 建議 BGA | 關鍵選擇因素 | 成本等級 |
|---|---|---|---|
| 消費電子 | PBGA | 成本導向，效能足夠 | $ |
| 行動/穿戴 | TBGA、𝜇BGA | 超薄封裝、細間距 I/O | $$ |
| 高效能運算 | FCBGA | 最高電氣效能、低 Z(PDN) | $$$ |
| 航太/軍規 | CBGA、CGA | 高可靠、CTE 匹配、耐震 | $$$$ |
| IoT 感測器 | 𝜇BGA | 微型化、低高度 | $$ |
| 電力電子 | EBGA | 強化散熱（>10 W） | $$$ |
BGA 組裝物理：回焊熱力學與溫度曲線
選對封裝只是成功一半，JLCPCB 的組裝製程仰賴精準熱力學以形成可靠 IPC Class 3 焊點，通用曲線將導致缺陷。
SAC305 SMT 回焊曲線顯示升溫、浸潤、液相線與冷卻區。
浸潤區（助焊劑活化）
● 目標：150–190 ℃，持續 60–120 秒。
● 物理：讓助焊劑揮發物逸散，並化學去除焊墊與 BGA 焊球氧化物。
● 風險：升溫過快（>3 ℃/s）會使揮發溶劑劇沸，導致「焊珠」或「葡萄珠」現象（焊膏顆粒未完全聚結）。
液相線以上時間（TAL）
● 目標：高於 217 ℃（SAC305 熔點）維持 60–90 秒。
● 介面金屬化合物（IMC）生成：此化學反應關鍵：熔融錫與銅墊反應生成 Cu₆Sn₅。
● 恰到好處區：
○ 過短：潤濕不足（冷焊）。
○ 過長：IMC 過厚（>5–7 µm）增加循環脆裂風險，Cu₃Sn 空洞（Kirkendall 空洞）導致機械衝擊下脆斷。
峰值溫度與 ΔT
● 目標：235–245 ℃。
● 均勻性：BGA 體內溫差（ΔT）至關重要，中心焊球因封裝遮擋升溫較慢。JLCPCB 採 10 區熱風回焊爐，最小化 ΔT，確保中心焊球達液相線同時不過熱邊緣。
BGA PCB 佈線指南：良率、可靠性與可製造性
為確保各類 BGA 封裝成功組裝，PCB 佈線須針對製造最佳化。
圖示 BGA 元件於 PCB 之組裝。
NSMD 與 SMD 焊墊
NSMD（非防焊層定義）：防焊開口大於銅墊，焊料可包覆銅側壁，形成機械「咬合力」，通常用於 BGA 以提高疲勞壽命。
SMD（防焊層定義）：防焊覆蓋墊邊，用於極細間距 BGA 防止焊墊剝離，但在防焊頸部形成應力集中。
了解更多：如何訂購防焊層定義焊墊之電路板
焊墊內導孔（VIP）技術
間距 <0.5 mm 時，「狗骨」扇出不可行，焊墊內導孔 將導孔直接置於 BGA 焊墊內。
注意：此類導孔須電鍍填平（POFV - Plated Over Filled Via）。若留空，回焊時焊料會沿導孔流下，形成「氣囊」或焊點空洞。
結論
在 PBGA、CBGA 或 FCBGA 間選擇，是熱阻（θJA）、寄生電感與成本的權衡，但設計只是開始。
可靠實現需懂回焊物理的製造夥伴。JLCPCB 具備 0.35 mm 間距組裝、10 區回焊曲線與 100% 3D X-Ray 檢測，確保您的高密度設計如模擬般表現。
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常見問題
Q1：BGA 扇出用 Type VII 與 Type I 導孔有何差異？
Type I 為遮蓋導孔，用於 BGA 焊墊有風險，助焊劑易滯留。Type VII（IPC-4761）為填孔並加蓋（POFV)。間距 <0.5 mm 的 BGA 必須採用 Type VII，防止焊料吸蝕與焊點內氣洞。
Q2：為何 JLCPCB 多數 BGA 應用建議 NSMD 焊墊而非 SMD？
非防焊層定義（NSMD）焊墊暴露銅側壁，焊料可錨定四周，增加焊點表面積，熱循環疲勞壽命提升 15–20%。防焊層定義（SMD）焊墊通常保留給極細間距（<0.4 mm）以防止焊墊剝離。
Q3：如何計算 MSL 3 BGA 所需烘烤時間？
若超出車間壽命（168 h，≤30 ℃/60% RH），須烘烤。標準（J-STD-033）通常為 125 ℃ 烘烤 24–48 h，視封裝厚度而定。未烘烤將在回焊（245 ℃）時因濕氣快速膨脹導致封裝開裂或「爆米花」。
Q4：JLCPCB能否組裝同時使用錫鉛焊料與SAC305焊料元件的「混合技術」電路板？
可以，但會面臨冶金方面的挑戰。若使用SnPb焊膏焊接無鉛BGA（SAC305焊球），回流曲線必須達到217℃才能使焊球完全塌陷。若曲線僅達SnPb熔點（205℃），SAC305焊球將無法熔化，導致機械介面強度不足（冷焊）。為確保一致性，建議採用全無鉛製程。
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