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AOI検出の動作原理

初出公開日 Jun 19, 2026, 更新日 Jun 19, 2026

1 min

目次
  • #1 AOI検出とは?
  • #2 AOI検出の動作原理
  • #3 2D AOIと3D AOIの違い

#1 AOI検出とは?

自動光学検査(AOI) は、光学原理と画像処理技術を利用して、PCBA基板上の部品のはんだ接合部を検査する技術です。はんだ接合部の微細な欠陥を迅速に特定でき、目視検査の限界を効果的に克服します。

ALT:Automated Optical Inspection (AOI)

(画像出典:インターネット)

#2 AOI検出の動作原理

AOI検出装置は、主に光の反射の原理を利用して、PCBA基板上の部品のはんだ接合部を識別し、検査します。検査中に得られた画像情報はデータに変換され、AOIデータベース内の合格パラメータと比較され、検査対象のはんだ接合部に欠陥があるかどうかを判断します。

ALT:AOI Detection Working Principle Picture

(画像出典:インターネット)

AOI検出のワークフローに基づき、以下の4つの段階に分けられます。

画像取得段階

検査対象物をスキャンし、画像を収集する役割を担います。

AOI光源は、高角度と低角度のRGBリングライト(赤、緑、青)の組み合わせで構成されています。さまざまな角度と色の光で異なる層のはんだ接合部を照射し、はんだ接合部からの反射光をコンピュータに取り込みます。

ALT: scanning the inspected object and collecting images

(画像出典:インターネット)

カメラはPCBA基板の真上に垂直に配置され、部品のはんだ接合部の画像を撮影します。入射角と反射角が等しいという原理に従い、はんだ接合部の異なる角度や層で反射した光情報が、異なる色でカメラに捉えられます。

ALT:capture images of the component solder joints

(AOI画像取得の原理)

データ処理段階

収集した画像データを分類・変換する役割を担います。

AOI装置のコンピュータは、収集した画像の特徴をアルゴリズムで処理し(ノイズ除去、補正、強調など)、その後の分析のために画質を向上させます。

ALT: classifying and converting the collected image data

(データ処理後の画像)

画像分析段階

処理された画像から特徴を抽出し、テンプレートマッチングや色抽出などの方法を用いてAOIデータベース内の合格パラメータと比較し、画像内の欠陥を特定する役割を担います。

色抽出比較:一般的に、はんだ接合部の赤色領域ははんだ接合部の平坦面からの反射、緑色領域は部品ピンのはんだの這い上がり角度が小さいこと、青色領域ははんだの這い上がり角度が大きいことを示します。画像内の各色の割合を抽出し、合格テンプレートの割合と比較することで、しきい値範囲内にあれば基板は合格、そうでなければ事前に定義された欠陥タイプに基づいて欠陥レポートを生成します。

ALT:AOI Color Extraction Comparison: Within threshold = Qualified board

(AOI色抽出比較:しきい値内 = 合格基板)

テンプレート比較: 通常、AOIデータベース内の合格パラメータは、インポートされた部品パッケージデータをテンプレートとして基づいています。AOI検出中、検査対象のPCBA基板の画像はAOIデータベース内の合格パラメータと比較され、はんだ接合部に欠陥があるかどうかを判断します。

ALT:AOI Template Comparison: Solder bridging

(AOIテンプレート比較:はんだブリッジ)

報告段階

検査結果を報告する役割を担います。

画像分析後、AOIデータベース内の合格パラメータと一致しないPCBA基板はNG基板としてラベル付けされ、欠陥が自動的にマークされ、スタッフによるさらなる検査と修理が行われます。合格パラメータと一致する基板はOK基板としてラベル付けされ、自動的に次の工程のための受け取り機に搬送されます。

#3 2D AOIと3D AOIの違い

2D AOI検出

主にRGB平面照明を使用して、単一角度から部品の2D画像を取得します。はんだ接合部からの光の反射を処理し、画像分析段階で色の割合を分析して欠陥を検出します。

ALT:2D AOI Imaging

(2D AOIイメージング)

利点: 2D AOI装置は適用範囲が広く、コストが比較的低く、PCBA基板上の部品欠落、位置ずれ、銅箔露出、はんだブリッジなどのはんだ付け欠陥を迅速に検出できます。

ALT:quickly detect soldering defects

(画像出典:インターネット)

欠点: 2D AOIは、ICピンの浮きや浮き上がりなどの欠陥を複数の角度から検査できず、エッジ測定は照明の変化に大きく影響されるため、その能力に限界があります。

3D AOI検出

2D AOIに加えて、3D AOIは構造化光イメージングを追加します。グレーティングを使用して2Dでは欠落していた高さ情報を復元することで、複数の角度から部品ピンのはんだ付け状態の検出を可能にし、2D AOIにおけるICピンの浮きや浮き上がりなどの限界に対処します。

ALT:3D AOI Imaging

(3D AOIイメージング)

欠点: 3D AOIの技術的な複雑さはより高く、専門的なメンテナンスが必要であり、そのコストは2D AOIと比較して高くなります。

AOI装置は物体の表面に基づいて画像を取得するため、大きなグランドパッドの下にある部品のはんだ接合部の欠陥はAOIでは検出できず、代わりにX線検査が必要です。

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